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晶棒參考面X射線定向儀時間:2017-09-15型號:ALL-CKMD400型廠商性質:生產廠家瀏覽量:18221
晶棒參考面X射線定向儀(yi)的(de)(de)結構與(yu)功(gong)能介紹:基(ji)準平(ping)臺(tai):此件固(gu)定在(zai)主機的(de)(de)臺(tai)面板上,測量時做水平(ping)基(ji)準面,基(ji)準平(ping)臺(tai)的(de)(de)右側為定位面,左(zuo)側為夾(jia)(jia)緊裝置,左(zuo)側的(de)(de)夾(jia)(jia)緊裝置上有夾(jia)(jia)緊螺釘,設備(bei)配套的(de)(de)夾(jia)(jia)具在(zai)測量時放(fang)于基(ji)準平(ping)臺(tai)上。
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半自動尋峰X射線定向儀時間:2017-11-08型號:ALW-QZXD 800型廠商性質:生產廠家瀏覽量:17074
ALW-QZXD 800型半自動尋峰X射(she)線定(ding)向儀(yi)為雙(shuang)工作臺,左右工作臺均能(neng)滿足2~8寸晶片的測量,重復精度為±3“。測定(ding)單晶材料的峰位角,使(shi)用(yong)于工業生產的一般要求。
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全封閉晶棒XY軸X射線定向粘料儀時間:2017-11-08型號:ALW-XYDZ 700A 型廠商性質:生產廠家瀏覽量:17064
ALW-XYDZ 700A 型全(quan)封(feng)閉晶棒(bang)XY軸X射線定向(xiang)粘料(liao)儀(yi)為全(quan)封(feng)閉式雙工(gong)(gong)作臺,左側工(gong)(gong)作臺在(zai)X光(guang)下對(dui)(2~6)英(ying)寸藍寶(bao)石晶棒(bang)X軸定向(xiang),晶棒(bang)長(chang)度(du)Z短為20mm,利(li)用導軌滑動(dong)在(zai)一塊料(liao)板上(shang),粘結多(duo)塊晶棒(bang);右側工(gong)(gong)作臺在(zai)X光(guang)下利(li)用工(gong)(gong)具對(dui)(2~6)英(ying)寸藍寶(bao)石晶棒(bang)Y軸角(jiao)度(du)定向(xiang),然后將晶棒(bang)和夾(jia)具一起放到磨床進行參考面的玻璃面進行磨平、加工(gong)(gong).儀(yi)器定向(xiang)粘結精度(du)±15“/30“,Z小讀(du)數(shu)1“,具有差(cha)值顯示功(gong)能。
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晶棒XY軸X射線定向粘料儀時間:2017-11-08型號:ALW-XYDZ 700型廠商性質:生產廠家瀏覽量:17013
ALW-XYDZ 700型晶(jing)棒(bang)(bang)(bang)XY軸X射線定(ding)(ding)向(xiang)粘(zhan)料儀(yi)為雙工(gong)作臺,左(zuo)側工(gong)作臺在(zai)X光下對(2~6)英寸藍寶(bao)石晶(jing)棒(bang)(bang)(bang)X軸定(ding)(ding)向(xiang),晶(jing)棒(bang)(bang)(bang)長度(du)Z短為20mm,利用導軌滑動在(zai)一塊(kuai)料板上,粘(zhan)結多塊(kuai)晶(jing)棒(bang)(bang)(bang);右側工(gong)作臺在(zai)X光下利用工(gong)具(ju)對(2~6)英寸藍寶(bao)石晶(jing)棒(bang)(bang)(bang)Y軸角(jiao)度(du)定(ding)(ding)向(xiang),然后將(jiang)晶(jing)棒(bang)(bang)(bang)和夾(jia)具(ju)一起放到磨(mo)(mo)床進(jin)行參(can)考面的玻璃面進(jin)行磨(mo)(mo)平、加工(gong)。儀(yi)器(qi)定(ding)(ding)向(xiang)粘(zhan)結精度(du)±15“/30“,Z小讀數1“
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YX-300型X射線雙晶高精度定向儀時間:2019-12-17型號:廠商性質:生產廠家瀏覽量:18145
YX-300型X射線雙(shuang)晶(jing)(jing)高(gao)精度定向儀(yi)此種(zhong)機型為雙(shuang)晶(jing)(jing)衍射型高(gao)精度定向儀(yi),操(cao)作(zuo)簡便,強度較(jiao)低,可(ke)用于(yu)更高(gao)精度水晶(jing)(jing)晶(jing)(jing)片、壓電晶(jing)(jing)體、光學晶(jing)(jing)體以及各種(zhong)單晶(jing)(jing)晶(jing)(jing)體材(cai)料(liao)的(de)檢測。
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